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    PTR Series
    AFM Applications
 

Automated Inline Measurements of Hard Disk Sliders

随着硬盘滑块的尺寸越来越小,复杂性越来越高,提高产量的关键在于实现纳米级的精确度。
Park NX-PTR恰恰具备这样的精确且自动的硬盘滑块测量。

Automatic PTR Measurement and Analysis

借助NX-PTR系统,极尖沉降测量可实现全自动,带来更高的通量,无论是对于载体、长形条,还是滑块。 
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Park Systems的工业级院里子显微镜精确且稳定的全自动化极尖沉降(PTR)测量成为可能。

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极尖沉降量的监测要求测量精度达到0.1 mm,这意味着离测量表面只有20 µm远。


Automatic Wall Angle Measurement & Analysis

实现各类墙角的自动测量与分析。

ibm-wall-angle-measurement-analysis

 


Automatic Defect Measurement and Analysis

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实现各类缺陷的全自动测量与分析,如表面尖角。

 

Park NX-PTR features

Low Noise XYZ Position Sensors for more accurate scans

NX-PTR摈弃了常见的非线性Z轴电压信号,而是采用超低噪声Z轴探测器,从而带来无与伦比的形貌高度精度。凭借着行业领先的低噪声Z轴探测器,正向扫描和反向扫描间隙得以降到扫描范围的0.15%以内,甚至可以忽略不计,而这时Z轴形貌信号所无法企及的。


Minimal Thermal Drift and Hysteresis reduces tip drift

NX-PTR具备极为突出的热稳定性和机械稳定性,从而大大降低热漂移,实现更为精确的测量。一般情况下,横向热漂移率低于100 nm/°C,而垂直热漂移率则低于200 nm/°C。


Automatic Measurement Control so you can get accurate scans with less work

aotomatic-softwareNX-PTR配有自动化软件,操作起来轻而易举。您只需要选择想要的测量程序,并设定相应的悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数,便可取得多位置分析。此外,Park的用户友好型界面让您能够随意创建自定义作业程序,以便您完全发挥NX-PTR的实力,满足所有的测量需求。创建新的作业程序极为简单,新测量文件创建只需要10分钟,而修改现有的测量文件则不超过5分钟。


Park NX-PTR’s automated system features:

• 自动、半自动和手动模式,让您掌控全局
• 各自动程序的可编辑测量方法
• 测量过程实时监测
• 自动分析所获取的测量数据

 

Park PTR - Applications | Park Atomic Force Microscope