XEシリーズは、AFM市場で最も先進的であるだけでなく、ユーザーにとって使い勝手のよいAFMです。使いやすいユーザーインターフェースと、AFM操作を覚えるのに要 する時間と労力が最小限ですむことに、ユーザー指向の製品開発に取り組んでいる当社の姿勢が現れています。XE-AFMを使用すれば、経験レベルを問わず、すべての ユーザーが装置ではなく計測そのものに重点を置くことができます。業界初の軸直上光学系から、簡単にできるチップ交換に至るまで、パークシステムズはユーザーの便 宜を考えて、今後の動向を決定し市場をリードする技術革新を先頭に立って進めてきました。パークシステムズにとって、使いやすさこそ大切なお客様に提供できる究 極のサポートなのです。
XEシリーズは、ヘッドのデザインが独特で、試料やチップへサイドからゆったりアクセスできるようになっています。したがって、チッ プや試料の交換が、手でパチンとはめるだけで簡単にできます。当社の先進的なアライメント済みチップ装着機構により、何度交 換しても常に、プローブチップを同じ位置に装着できるので、特殊な工具を使ったりヘッドを取り外したりする必要がありません。
当社が特許を取得したレーザービームアライメント機構では、レーザービームが垂直方向からカンチレバーに当たり、2つの位置決 めノブを回転させることで、ビームスポットがX軸とY軸に沿ってスムーズに動きます。その結果、ユーザーは、当社のビームアライメ ント機構のユーザーインターフェースにあるPSPDウィンドウの中心にビームスポットの位置を合わせることで、カンチレバーの中心と レーザービームの光軸を合わせることができます。
軸直上光学系は、AFMユーザーの観察方法を画期的に変える業界初のソリューションです。試料からCCDカメラまでの光路が遮る もののない一直線になります。自然なオンアクシス、トップダウンビューなので、ユーザーはAFM計測の対象である構造をすばやく 見つけることができます。このユニークな構成が、AFM市場で最高の質、最高の解像度（1μm）の光学ビューを可能にしています。
Z方向スキャナーを内蔵するAFMヘッドを、ダブテールレールに沿ってスライドさせて、簡単に差し込んだり引き抜いたりできます。 使いやすい2つのサムロックを回して、ヘッドを所定の位置にロックします。
AAFM計測のユーザーによる制御はすべて、データ取得プログラムXEPで操作されます。ユーザー指向インターフェースにより、AFMを 簡単に操作できます。 - 最大16の画像データを同時取得 - 最大4096ｘ4096の画像サイズ - バッチ処理による専用フォース・ディスタンスおよびI-V分光法 - カンチレバーのバネ定数キャリブレーションモジュール内蔵 - 外部プログラム（LabCIEW, C++）によるスクリプトレベル制御
XEIはAFM画像処理・解析プログラムです。強力な処理アルゴリズムにより簡単かつ能率的な画像解析ができます。最も先進的で 多様な画像化機能をもつので、XEユーザーは実験から必要不可欠にしてきわめて重要な情報を得ることができます。 - 600MHz、処理速度 4800MIPSの高性能処理装置 - ラインプロフィール、特定領域、3Dレンダリングの画像解析 - 分光データ解析モジュール（F-d、I-V） - プレゼンテーションプログラムへ直接コピー／ペースト - 複数画像比較 - 2つの異なる画像のオーバーレイ
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AFM
誰でも使いやすいXEの性能
